Passat cibus communis pertinet ad pressura plenas blasphemiæ sensorem 06E906051K

1. Methodus sensorem pressionis formandi, complectens:

Substratum semiconductorem prospiciens, in quo primus iacuit interlator dielectric, primus iacuit interlator dielectric et alter stratum dielectric interpositum in subiecto semiconductori formatum est.

Electrode inferior lamina in primo strato dielectric interposito, prima electrode mutua in eodem tabulato posita cum lamina electronica inferior et disiuncta est.

Stratis connectens;

Sacrificalem stratum formans supra laminam polarem inferiorem;

Electrodam superiorem formans in primo strato dielectric interposito, primum stratum connexionis et stratum sacrificale;

- Cum strato sacrificali efformato, et antequam laminam superiorem formaret, primo strato connexionis

Connexionem sulcam formans, et nexum sulcus cum lamina superiori ad electrically connectendum cum tabulato primo inter connexionis implens;Vel,

Post laminam superiorem electrode formatam, sulci connectens in lamina superiori electrode formata et primum connexionis stratum, quod

- Stratum conductivum formans laminam electrodem superiorem connectens et primum stratum connexionis in iunctione sulci;

Post electrically connectens laminam superiorem et primum stratum connexionis, tollendo stratum sacrificalem ad cavitatem formandam.

2. Modus formandi pressionis sensorem secundum tionem 1, qua in primo strato

Methodus sacrificalem iacum efformandi in strato dielectric interposito comprehendit sequentes gradus:

Iaculum materiale sacrificalem deponendo primo strato dielectric interposito;

Patefacio materialis immolationis stratum ad formandum stratum sacrificale.

3. Modus formandi pressionem sensorem secundum affirmationem 2, in qua photolithographia et sculptura adhibentur.

Sacrificalis materia iacuit per processum enormiter.

4. Modus formandi pressionem sensorem secundum ius 3, quo iacuit sacrificalis

Materia carbo carbonis vel germanium est amorphos.

5. Modus formandi pressionis sensorem secundum vindicationem 4, in qua iacuit sacrificalis

Materia carbonis amorphosi est;

Etchingae vapores in processu adscrutandi materiae sacrificalis includunt O2, CO, N2 et Ar;

Parametri in processu adscrutandi sacrificalem stratum materialium sunt: ​​cursus O2 est 18 SCCM~ 22 SCCM, et rate fluens CO est 10%.

Concursiones rate fluunt ab 90 SCCM ad 110 SCCM, rate fluunt N2 iugis ab 90 SCCM ad 110 SCCM, ac rate fluunt Ar.

Circumscriptio 90 SCCM~ 110 SCCM, pressio 90 mtor~ 110 mtor, tencus potestas est.

540w～660w。